Название: Качество и надежность интегральных микросхем
Автор: Козырь И.Я.
Издательство: Высшая школа
Год: 1987
Серия: Микроэлектроника: Учебное пособие для втузов. Книга 5
Формат: pdf
Страниц: 138
Размер: 11,4 Mб
Язык: Русский

В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.